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Seifert x|blade:
應(yīng)用領(lǐng)域:
自動化航空鑄件檢測
Seifert x|blade
- 無損檢測 (NDT) 解決方案之一,適用于航空零件,可檢測長達(dá) 400 mm ,重 8kg 的鑄造渦輪葉片。x|blade 功能滿足 MAI(金屬的經(jīng)濟(jì)可承受性計劃) 和 ASTM 標(biāo)準(zhǔn)。數(shù)字化的***成像技術(shù)具有膠片式的***成像技術(shù)的所有優(yōu)點(diǎn),同時避免前者的缺點(diǎn)。它增強(qiáng)了***成像技術(shù),可實現(xiàn)數(shù)字化技術(shù)數(shù)據(jù)處理、分析和存儲。飛機(jī)的渦輪葉片可使用 Seifert x|blade 系統(tǒng)進(jìn)行檢測。
航空發(fā)動機(jī)性能的要求越來越嚴(yán)格。高性能發(fā)動機(jī)采用***的多壁鑄造工藝進(jìn)行冷卻的設(shè)計。這對檢測任務(wù)是一個挑戰(zhàn),由于現(xiàn)有測量技術(shù)無法確定這些新式多壁鑄件的可接受性。在渦輪發(fā)動機(jī)部件設(shè)計的研究進(jìn)展,包括多壁葉片,CT技術(shù)的應(yīng)用是明顯的需求。
Blade?line
X射線CT系統(tǒng)的主要功能是創(chuàng)建內(nèi)部鑄造件的CT切片圖像,為評估提供更多詳細(xì)的數(shù)據(jù)(壁厚測量和缺陷分析)
經(jīng)過CT掃描后可以清楚看到胚胎角質(zhì)層內(nèi)部海綿狀結(jié)構(gòu)輪廓,并對內(nèi)部物質(zhì)中心進(jìn)行尺寸測量、角度測量。華南納米級工業(yè)CT掃描phoenix nanome|x-------特色:
主要功能
通過***的雙向檢波器技術(shù)(數(shù)字圖像鏈與有效的溫度穩(wěn)定的30幀每秒的數(shù)字探測器)獲取的清晰的活動影像
高放大倍率
***的操作
高度的可再現(xiàn)性
180千伏/ 15 W高功率開放納米焦點(diǎn)管具有高達(dá)200納米的細(xì)節(jié)探測能力
可升級到 nanoCTò
可選:
x|act 軟件包用于方便快捷的基于CAD的高分辨率自動X射線檢測(?AXI),以達(dá)到極高的缺陷覆蓋率,具有高放大倍率和可再現(xiàn)性
通過高動態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器與主動冷卻獲取的30 FPS(幀每秒)的清晰的活動檢測影像
10秒內(nèi)的三維計算機(jī)斷層掃描
通過菱形|窗口以同樣的高圖像質(zhì)量水平進(jìn)行快達(dá)2倍的數(shù)據(jù)采集 華南工業(yè)CT銷售裂紋提?。簩τ诿簩託饧按嬖谠鸭y的樣品,通過對裂縫進(jìn)行三維數(shù)據(jù)的分析,輔助判斷巖樣的連通性。
phoenix v|tome|x s
——傳感器和電氣工程
在傳感器和電子元件的檢測中,高分辨率X射線技術(shù)主要用于檢測和評估接觸點(diǎn)、接頭、箱子、絕緣子和裝配情況。 它甚至可以檢測半導(dǎo)體元件和電子設(shè)備(焊點(diǎn)),而無需拆卸設(shè)備。
1.4毫米壓接高度的微焦點(diǎn)計算機(jī)斷層掃描(micro ct) 壓接。為確定單線的數(shù)量和壓接密度,生成了入口區(qū),出口區(qū)和壓接區(qū)本身(綠色)的3個層析層: 19股線進(jìn)入,但只有17股線退出壓接區(qū)。
由于缺乏材料,壓接區(qū)內(nèi)形成了小空洞。
v|tome|x L 300
——應(yīng)用:
三維計算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線三維計算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。
然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
材料科學(xué)
高分辨率計算機(jī)斷層掃描(micro
ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。
材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。
渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足***高質(zhì)量和安全性的要求。
CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測量(如壁厚)。 CT技術(shù)之 - 壁厚分析功能。
v|tome|x L 240
—— 應(yīng)用:材料科學(xué)
高分辨率計算機(jī)斷層掃描(micro
ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。
材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。
鑄件與焊接
射線無損檢測用于檢測鑄件和焊縫缺陷。 微焦點(diǎn)X射線技術(shù)和工業(yè)X射線計算機(jī)斷層掃描(mico
ct)的結(jié)合,使得微米范圍內(nèi)的缺陷探測成為可能,并提供低對比度缺陷的三維圖像。
鑄鋁活塞的CT圖像顯示被檢測對象的隱藏的輪廓和內(nèi)表面,包括一些空洞,可自動計算其尺寸和位置。
層析圖像是三維測量的基礎(chǔ)(表面重構(gòu)和標(biāo)準(zhǔn)實際值比較)
玻璃纖維增強(qiáng)塑料制成的物體的nanoCT: 玻璃纖維和礦物填料(紫色)的凝聚體的方位和分布都清晰可見。 纖維寬度大約為 10 μm.
3D打印航空部件缺陷檢測,得到樣品的缺陷參數(shù),不同顏色表示不同缺陷體積。東北工業(yè)級工業(yè)CT測量
得益于實驗室**的設(shè)備配置,使得二維掃描質(zhì)量較高,可以清晰的觀察到零件缺陷。華南納米級工業(yè)CT掃描
v|tome|x L 450
——三維計算機(jī)斷層掃描
工業(yè)X射線三維計算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。
然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。
材料科學(xué)-
玻璃纖維復(fù)合材料的nanoCT: 纖維氈(藍(lán)色)的纖維方向和基質(zhì)樹脂(橙色)會顯示出來。右邊: 樹脂內(nèi)的空洞會以暗腔出現(xiàn)。左邊: 樹脂已淡出,以更好地使纖維氈可視化。 氈內(nèi)的單根纖維是可見的。
渦輪葉片是復(fù)雜的高性能鑄件,要滿足***高質(zhì)量和安全性的要求。 CT可進(jìn)行故障分析以及***的三維測量(如壁厚) 華南納米級工業(yè)CT掃描
英華檢測(上海)有限公司是一家檢測設(shè)備、儀器儀表、機(jī)械設(shè)備、機(jī)電設(shè)備及其零部件、電子產(chǎn)品、五金交電、汽車配件的研發(fā)、制造、加工、銷售,工業(yè)設(shè)計,從事貨物及技術(shù)的進(jìn)出口業(yè)務(wù),檢測服務(wù),自有設(shè)備租賃,工業(yè)檢測設(shè)備的維修及安裝,會務(wù)服務(wù),商務(wù)咨詢,從事計算機(jī)科技、檢測技術(shù)、汽車科技、勘探技術(shù)領(lǐng)域內(nèi)的技術(shù)開發(fā)、技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓。的公司,是一家集研發(fā)、設(shè)計、生產(chǎn)和銷售為一體的專業(yè)化公司。英華檢測深耕行業(yè)多年,始終以客戶的需求為向?qū)?,為客戶提?**的工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測服務(wù)。英華檢測始終以本分踏實的精神和必勝的信念,影響并帶動團(tuán)隊取得成功。英華檢測始終關(guān)注自身,在風(fēng)云變化的時代,對自身的建設(shè)毫不懈怠,高度的專注與執(zhí)著使英華檢測在行業(yè)的從容而自信。