解決電子產(chǎn)品測試中的問題和難點(diǎn)需要從以下幾個(gè)方面入手： 1.測試流程優(yōu)化：優(yōu)化測試流程可以提高測試效率和測試質(zhì)量。測試流程應(yīng)該合理、清晰，測試任務(wù)應(yīng)該明確、可執(zhí)行。 2.測試工具和設(shè)備升級(jí)：升級(jí)測試工具和設(shè)備可以提高測試精度和測試覆蓋率。測試工...

三、測試方法 電子產(chǎn)品測試采用多種測試方法，根據(jù)測試目的和測試對(duì)象的不同，可以選擇適當(dāng)?shù)臏y試方法和技術(shù)。常用的測試方法包括： 功能測試：采用黑盒測試方法，即不考慮內(nèi)部結(jié)構(gòu)和實(shí)現(xiàn)原理，只根據(jù)輸入和輸出之間的關(guān)系進(jìn)行測試。 性能測試：采用白盒...

一些提高電子產(chǎn)品測試效率的方法： 1.自動(dòng)化測試：自動(dòng)化測試可以通過編寫測試腳本和測試程序，自動(dòng)執(zhí)行測試過程，提高測試效率和準(zhǔn)確性。自動(dòng)化測試可以節(jié)省測試時(shí)間和人力成本，并提高測試的覆蓋率和可靠性。 2.并行測試：并行測試可以同時(shí)進(jìn)行多個(gè)測試任...

新的眼圖生成方法解決了觸發(fā)抖動(dòng)問題，處理UI多，因此速度也快。2.1.2.1.數(shù)據(jù)邊沿的提取數(shù)據(jù)邊沿的提取獲取捕獲數(shù)據(jù)的最大值為Max，最小值為Min，設(shè)置Threshold=0.5*(Max+Min)，當(dāng)采樣點(diǎn)電壓值穿過Threshold時(shí)，記錄下時(shí)間為...

一種眼圖測試方法,裝置,電子設(shè)備及計(jì)算機(jī)可讀存儲(chǔ)介質(zhì),該方法包括:獲取目標(biāo)數(shù)據(jù),并將目標(biāo)數(shù)據(jù)寫入目標(biāo)文件;將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取至寄存器;將寄存器中的寄存器數(shù)據(jù)刷新至內(nèi)存中,并在刷新完成后進(jìn)行眼圖測試;該方法可以將目標(biāo)文件中的寄存器數(shù)據(jù)讀取到寄存器中.通...

（2）波形需要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)進(jìn)行疊加：眼圖是對(duì)多個(gè)波形或比特的疊加，但這個(gè)疊加不是任意的，通常要以時(shí)鐘為基準(zhǔn)。對(duì)于很多并行總線來說，由于大部分都有專門的時(shí)鐘傳輸通道，所以通常會(huì)以時(shí)鐘通道為觸發(fā)，對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)的波形進(jìn)行疊加形成眼圖，一般的示波器都具備這個(gè)功能。而對(duì)于...

寬總線式交換機(jī)是在交換機(jī)主板上預(yù)留一條“數(shù)據(jù)總線”，就像一條大家公用的公路，每個(gè)端口都可以利用其其中一部分帶寬，假如這個(gè)總線帶寬為 200 兆的話，也就是說多同時(shí)是允許 2 組 100 兆端口同時(shí)可以通訊，其余端口如果也要通訊還是需要等待的，因?yàn)閹捯呀?jīng)分配完...

產(chǎn)生抖動(dòng)的原因有很多，常見的一種由于噪聲引起的。 一個(gè)帶噪聲的數(shù)字信號(hào)及其判決。一般我們把數(shù)字信號(hào)超過閾值的狀態(tài)判決為“1”，把低于閾值的狀態(tài)判決為"0",由于信號(hào)的上升沿不是無限陡的，所以噪聲會(huì)引起信號(hào)過閾值點(diǎn)時(shí)刻的左右變化，這就是由噪聲引起的信號(hào)...

二、測試方法 1.功能測量功能測量是一種測試方法，用于驗(yàn)證電路的基本功能是否符合規(guī)格要求，通常是通過給定輸入數(shù)據(jù)，檢查輸出是否正確來進(jìn)行功能測試。在高速電路測試能測量通常使用數(shù)字信號(hào)發(fā)生器和示波器等儀器進(jìn)行。 2.時(shí)序測試時(shí)序測試是一種測試方法...

10GBase-T/MGBase-T/NBase-T的測試 10GBase-T是IEEE在2006年推出的10G以太網(wǎng)的標(biāo)準(zhǔn)，用于在服務(wù)器、數(shù)據(jù)交換機(jī)間用雙絞線和RJ-45接口實(shí)現(xiàn)10Gbps的信號(hào)傳輸。10GBase-T的實(shí)現(xiàn)方法與1000Base...

要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波，理論上是需要無窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考 慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量，則來出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化，會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。 如，一個(gè)頻率為500MHz的理想方波，其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以 內(nèi)所...

數(shù)字示波器使用及MIPI-DSI信號(hào)測量 數(shù)字示波器主要用于時(shí)域波形測試，測量電壓/電流隨時(shí)間的變化情況，MIPI-DSI是MIPI聯(lián)盟針對(duì)顯示設(shè)備開發(fā)的標(biāo)準(zhǔn)接口協(xié)議，這里記錄下本人學(xué)習(xí)數(shù)字示波器的使用和MIPI-DSI信號(hào)測試的一些總結(jié)。 一...

高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀及趨勢 摘要：隨著現(xiàn)代電子設(shè)備中高速串行通信信號(hào)的廣泛應(yīng)用，高速電路測試技術(shù)的重要性越來越突出。本文針對(duì)高速電路測試技術(shù)的發(fā)展現(xiàn)狀和趨勢進(jìn)行了相關(guān)分析和總結(jié)，包括測試機(jī)構(gòu)和設(shè)備、測試標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范、測試場景和應(yīng)用、測試技術(shù)和難點(diǎn)...

相關(guān)器件的應(yīng)用手冊(cè)，ApplicationNote:在這個(gè)文檔中，廠家一般會(huì)提出一些設(shè)計(jì)建議，甚至參考設(shè)計(jì)，有時(shí)該文檔也會(huì)作為器件手冊(cè)的一部分出現(xiàn)在器件手冊(cè)文檔中。但是在資料的搜集和準(zhǔn)備中，要注意這些信息是否齊備。 參考設(shè)計(jì)，ReferenceDes...

MIPI物理層一致性測試 MIPI物理層一致性測試是一種用于檢測MIPI接口物理層性能是否符合規(guī)范的測試方法。MIPI物理層包括電氣規(guī)范和信令協(xié)議，這些規(guī)范確保了MIPI接口在不同設(shè)備之間的互通性和穩(wěn)定性。在MIPI物理層一致性測試中，測試設(shè)備會(huì)模擬...

電氣完整性測試的應(yīng)用 電氣完整性測試在電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)和制造過程中發(fā)揮著重要作用。在電子產(chǎn)品開發(fā)和生產(chǎn)階段，它應(yīng)用非常廣博，應(yīng)用場景包括： 1.電子產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段：在產(chǎn)品設(shè)計(jì)階段，電氣完整性測試能夠幫助設(shè)計(jì)人員優(yōu)化設(shè)計(jì)方案，以便確保設(shè)計(jì)方案中不存在電...

典型的數(shù)字信號(hào)波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過沖包括上過沖(Overshoot_High)和下過沖(Overshoot_Low)。上過沖是信號(hào)高于信號(hào)供電電源電壓Kc的最高電壓，下過沖是信號(hào)低于參考地電壓厶的比較低電壓。過沖可能不會(huì)對(duì)功能產(chǎn)生影響，但是...

大部分的DRAM都是在一個(gè)同步時(shí)鐘的控制下進(jìn)行數(shù)據(jù)讀寫，即SDRAM(Synchronous Dynamic Random -Access Memory) 。SDRAM根據(jù)時(shí)鐘采樣方式的不同，又分為SDR SDRAM(Single Data Rate SD...

2. 全局規(guī)劃與細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)相結(jié)合。通過整體規(guī)劃和細(xì)節(jié)設(shè)計(jì)的有機(jī)結(jié)合，優(yōu)化電路完整性，減小電磁噪聲和輻射，提高電路信號(hào)傳輸?shù)母哳l響應(yīng)速率。 3. 等長線、天線和濾波器的設(shè)計(jì)。在電路布局設(shè)計(jì)中，需要考慮等長線、天線和濾波器的應(yīng)用，將其設(shè)計(jì)嵌入到電路中，以減...

典型的數(shù)字信號(hào)波形可以知道如下幾點(diǎn) (1)過沖包括上過沖(Overshoot_High)和下過沖(Overshoot_Low)。上過沖是信號(hào)高于信號(hào)供電電源電壓Kc的最高電壓，下過沖是信號(hào)低于參考地電壓厶的比較低電壓。過沖可能不會(huì)對(duì)功能產(chǎn)生影響，但是...

電氣完整性是指在電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)和布局中，確保電路或系統(tǒng)在運(yùn)行時(shí)能夠保持正常的電學(xué)特性的能力。電氣完整性問題可能導(dǎo)致設(shè)備頻繁出錯(cuò)或無法正常工作，從而影響系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。電氣完整性需要從電路、傳輸線、信號(hào)響應(yīng)等多方面進(jìn)行分析和檢測，以保證系統(tǒng)的穩(wěn)定性和可靠性。...

要想得到零邊沿時(shí)間的理想方波，理論上是需要無窮大頻率的頻率分量。如果比較高只考慮到某個(gè)頻率點(diǎn)處的頻率分量，則來出的時(shí)域波形邊沿時(shí)間會(huì)蛻化，會(huì)使得邊沿時(shí)間增大。例如，一個(gè)頻率為500MHz的理想方波，其5次諧波分量是2500M,如果把5次諧波以內(nèi)所有分量成時(shí)...

1.信號(hào)引腳布局：在PCB設(shè)計(jì)中，正確的信號(hào)引腳布局可以很大程度地減少電磁干擾和噪聲。 2.阻抗匹配：設(shè)計(jì)正確的阻抗匹配可以有效地減少信號(hào)反射和信號(hào)失真。 3.地面規(guī)劃:合理的地面規(guī)劃不僅可以提高抗干擾能力，還可以減少信號(hào)反射和串?dāng)_。 4...

4.選擇測試參數(shù)：根據(jù)測試對(duì)象的不同和測試要求，選擇相應(yīng)的測試參數(shù)，如測試頻率、測試電壓、測試時(shí)間等。5.進(jìn)行測試：根據(jù)測試設(shè)備的顯示結(jié)果或輸出結(jié)果，判斷被測對(duì)象在測試條件下是否能夠正常工作或滿足要求。 6.分析測試結(jié)果：對(duì)測試結(jié)果進(jìn)行分析、對(duì)比和歸...

（2）阻抗匹配（impedance matching）：信號(hào)源和接收器的輸入輸出端口阻抗不匹配，導(dǎo)致信號(hào)反射、信噪比下降等問題。 （3）噪聲（noise）：干擾源、地線回流、耦合等問題導(dǎo)致的信號(hào)噪聲。 （4）時(shí)序誤差（timingerror）：...

信號(hào)完整性測試方法： -時(shí)域測試：觀察信號(hào)在時(shí)間軸上的波形，分析信號(hào)的上升時(shí)間、下降時(shí)間、瞬態(tài)響應(yīng)等參數(shù)，評(píng)估信號(hào)是否存在失真。 -頻域測試：通過對(duì)信號(hào)進(jìn)行傅里葉變換，將信號(hào)從時(shí)域轉(zhuǎn)換到頻域，分析信號(hào)的功率譜密度、帶寬等參數(shù)，評(píng)估信號(hào)在傳輸路徑...

由于D-PHY信號(hào)比較復(fù)雜，測試項(xiàng)目也很多，為了方便對(duì)D-PHY信號(hào)的分析，MIPI協(xié)會(huì)提供了一個(gè)的DPHYGUI的信號(hào)分析軟件。用戶可以用示波器手動(dòng)捕獲到相應(yīng)的LP或HS的信號(hào)并保存成數(shù)據(jù)文件，然后用這個(gè)軟件對(duì)波形進(jìn)行分析，圖13.9DPHYGUI軟件的...

通常我們會(huì)以時(shí)鐘為基準(zhǔn)對(duì)數(shù)據(jù)信號(hào)疊加形成眼圖，但這種簡單的方法對(duì)于DDR信 號(hào)不太適用。DDR總線上信號(hào)的讀、寫和三態(tài)都混在一起，因此需要對(duì)信號(hào)進(jìn)行分離后再進(jìn) 行測量分析。傳統(tǒng)上有以下幾種方法用來進(jìn)行讀/寫信號(hào)的分離，但都存在一定的缺點(diǎn)。 (1)根據(jù)...

1.測試需求分析 在進(jìn)行高速電路測試前，需要對(duì)測試需求進(jìn)行充分的分析和評(píng)估。測試需求分析的目的是為了確定需測試的電路的基本特性、測試方法和測試標(biāo)準(zhǔn)。具體包括：電路的基本特性（如工作頻率、帶寬、比較大時(shí)延等）、電路的測試目標(biāo)（如電學(xué)性能、時(shí)序特性、功耗...

針對(duì)信號(hào)完整性問題，常用的測試方法包括： （1）反射系數(shù)測試：主要用來測量電路中發(fā)生反射的位置、反射系數(shù)、阻抗匹配等參數(shù)。測試過程中通過觀察反射波形，可以判斷出電路中是否存在不良接觸、阻抗不匹配等問題。 （2）傳輸線測試：傳輸線的長度、阻抗匹配...