上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監(jiān)控動態(tài)老化設(shè)備，可以監(jiān)控的參數(shù)除了整板的電壓，電流，還可以根據(jù)需求，監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數(shù)據(jù)，時(shí)間，頻率等諸多參數(shù)，并實(shí)時(shí)記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯片都處于正常的老化狀態(tài)，保證老化測試的質(zhì)量，同時(shí)還可以清楚地知道具體失效的參數(shù)，以及在什么時(shí)間點(diǎn)失效等諸多信息，非常有益于失效后的FA分析。另外由于可以監(jiān)控更多芯片參數(shù)，這使得免除ATE回測成為可能，這將大幅度提高老化測試效率，節(jié)省更多人力成本！這項(xiàng)技術(shù)目前已在對芯片質(zhì)量要求較高的芯片設(shè)計(jì)公司廣泛應(yīng)用。TH801智能老化系統(tǒng)，實(shí)時(shí)監(jiān)測并記錄環(huán)境溫度，確保芯片處于正常HTOL狀態(tài)，保證HTOL測試質(zhì)量。浙江HTOL測試機(jī)哪里有賣的
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自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測技術(shù)的HTOL測試機(jī)，上海頂策科技有限公司自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測試機(jī)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。提供可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告。
芯片ATE程序開發(fā)及FT測試FT（FinalTest）是芯片在封裝完成以后進(jìn)行的*終的功能和性能測試，是產(chǎn)品質(zhì)量控制*后環(huán)節(jié)，通過ATE+Handler+loadboard檢測并剔除封裝工藝和制造缺陷等生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題的芯片。測試程序覆蓋功能和全pin性能參數(shù)，并補(bǔ)充CP未覆蓋的功能。服務(wù)內(nèi)容：老化方案開發(fā)測試硬件設(shè)計(jì)ATE開發(fā)調(diào)試可靠性試驗(yàn)在要求點(diǎn)(如0、168、500、1000 hr)進(jìn)行 ATE 測試，確定芯片是否OK, 記錄每顆芯片的關(guān)鍵參數(shù)，并分析老化過程中的變化。上海頂策科技有限公司可靠性測試部，提供HTOL方案設(shè)計(jì)制作。
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