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第二時間點(diǎn)讀點(diǎn)、第三時間點(diǎn)讀點(diǎn)至第n時間點(diǎn)讀點(diǎn)。在每個時間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norflash)產(chǎn)品htol可靠性驗(yàn)證的階段的測試流程例如依次為：初始(***時間點(diǎn))讀點(diǎn)、48小時(第二時間點(diǎn))讀點(diǎn)、168小時(第三時間點(diǎn))讀點(diǎn)、500小時(第四時間點(diǎn))讀點(diǎn)、1000小時(第n時間點(diǎn))讀點(diǎn)。本發(fā)明實(shí)施例的閃存參考單元未經(jīng)過編譯和擦除循環(huán)而直接進(jìn)行htol測試時，發(fā)現(xiàn)閃存htol可靠性驗(yàn)證在48小時(hrs)讀點(diǎn)失效。長寧區(qū)HTOL測試機(jī)參數(shù)TH801智能老化系統(tǒng)，全程數(shù)據(jù)實(shí)時記錄，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性。
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