南京衍射儀代理公司

X射線衍射中，Kα，Kβ具體代替什么？X射線管發(fā)生出來(lái)的不是純凈的單色光，包含多種波長(zhǎng)的射線，較主要的是K系射線。K系射線是指陰極電子碰撞陽(yáng)極，使陽(yáng)極電子產(chǎn)生K激發(fā)，擊走K層電子后，L層或M層電子填充K層電子而產(chǎn)生的X射線。K系射線又可以細(xì)分為Kα（L層電子填充）和Kβ（M層電子填充）兩種波長(zhǎng)略有差異的兩種射線。而X射線衍射儀要求使用單色X射線。因此，需要在XRD測(cè)試時(shí)把后者除掉，傳統(tǒng)的方法是在光路上加入一個(gè)濾波片（如Ni）?，F(xiàn)在一般使用銅靶，在光路上增加一個(gè)石墨晶體單色器來(lái)去除Kβ射線。單色器可以去除衍射背底，也可以去除Kβ射線的干擾。Cu的特征譜線波長(zhǎng)為：Kα1(1.54056 ?)，Kα2 (1.54439 ?)，Kβ1 (1.39222 ?)。對(duì)于銅靶，Kα波長(zhǎng)取Kα1與Kα2的加權(quán)平均值，其值為1.54184?(布拉格方程和謝樂(lè)公式中的λ)。衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有很強(qiáng)的分析能力。南京衍射儀代理公司

X射線衍射儀:三個(gè)物理量：從圖中可以看出，衍射譜上可以直接得到的有三個(gè)物理量，即衍射峰位置(2θ)、衍射峰強(qiáng)度(I)及衍射峰形狀(f(x))。粉末衍射可解決的任何問(wèn)題或可求得的任何結(jié)構(gòu)參數(shù)一般都是以這三個(gè)物理量為基礎(chǔ)的。主要技術(shù)參數(shù):一臺(tái)好的儀器應(yīng)能得到準(zhǔn)確(測(cè)得的數(shù)值與其真值相符)并精確(測(cè)量重復(fù)性好)的2θ、I及f(x)，需 要考慮下列幾個(gè)主要技術(shù)參數(shù)：X射線發(fā)生器的穩(wěn)定度：這不只關(guān)系到所測(cè)衍射強(qiáng)度的準(zhǔn)確可靠，而且關(guān)系到所有部件的準(zhǔn)確和穩(wěn)定?，F(xiàn)代粉末衍射儀的光源穩(wěn)定性一般在外電源變化10%以內(nèi)，輸出變化0.01%以內(nèi)。安慶衍射儀批發(fā)廠家衍射儀除了基本功能外，可快速配置各種附件，具有較強(qiáng)的分析能力。

X射線單晶體衍射儀(X-ray single crystal diffractometer)。本儀器分析的對(duì)象是一粒單晶體，如一粒砂糖或一粒鹽。在一粒單晶體中原子或原子團(tuán)均是周期排列的。將X射線（如Cu的Kα輻射）射到一粒單晶體上會(huì)發(fā)生衍射，由對(duì)衍射線的分析可以解析出原子在晶體中的排列規(guī)律，也即解出晶體的結(jié)構(gòu)。物質(zhì)或由其構(gòu)成的材料的性能是與晶體的結(jié)構(gòu)密切相關(guān)的，如金剛石和石墨都是由純的碳構(gòu)成的，由于它們的晶體結(jié)構(gòu)不同就有著截然不同的性質(zhì)。粉末衍射儀要求樣品試片具有一個(gè)十分平整的平面，而且對(duì)平面中的晶粒的取向常常要求是完全無(wú)序的，不存在擇優(yōu)取向（在粘土分析中有時(shí)又要求制作定向的試片）。

衍射儀對(duì)晶體結(jié)構(gòu)不完整性的研究包括對(duì)層錯(cuò)、位錯(cuò)、原子靜態(tài)或動(dòng)態(tài)地偏離平衡位置，短程有序，原子偏聚等方面的研究（見(jiàn)晶體缺陷）。合金相變包括脫溶、有序無(wú)序轉(zhuǎn)變、母相新相的晶體學(xué)關(guān)系等。結(jié)構(gòu)分析對(duì)新發(fā)現(xiàn)的合金相進(jìn)行測(cè)定，確定點(diǎn)陣類(lèi)型、點(diǎn)陣參數(shù)、對(duì)稱(chēng)性、原子位置等晶體學(xué)數(shù)據(jù)。液態(tài)金屬和非晶態(tài)金屬研究非晶態(tài)金屬和液態(tài)金屬結(jié)構(gòu)，如測(cè)定近程序參量、配位數(shù)等。X射線衍射是一種通過(guò)儀器進(jìn)行檢測(cè)的光學(xué)分析法，將單色X射線照到粉晶樣品上，若其中一個(gè)晶粒的一組面網(wǎng)取向和入射X射線夾角為θ時(shí)，滿足衍射條件，則在衍射角2θ處產(chǎn)生衍射。X射線衍射法，對(duì)樣品測(cè)試收費(fèi)要遠(yuǎn)高于紅外光譜的。

分析電子衍射與x射線衍射有何區(qū)別？相同點(diǎn)是兩者都是可以把晶體看做一個(gè)三維的光柵，對(duì)不同位置的原子散射的波進(jìn)行疊加求和，反映的晶格的對(duì)稱(chēng)性信息；不同點(diǎn)是電子衍射是電子受到在空間上周期性變化勢(shì)場(chǎng)的散射，電子與樣品的相互作用往往比x射線衍射與樣品作用要強(qiáng)烈一些，往往不止發(fā)生一次散射，即要考慮動(dòng)力學(xué)效應(yīng)，x射線是與核外電子發(fā)生作用，與核外的電子分布情況相關(guān)。實(shí)用角度的答案，在確定晶體對(duì)稱(chēng)性上，通常是用x射線來(lái)定的，因?yàn)閯?dòng)力學(xué)效應(yīng)很弱，不會(huì)出現(xiàn)本來(lái)消光的斑點(diǎn)位置因?yàn)槎啻紊⑸涞脑蛴殖霈F(xiàn)亮斑的情況，因此便于分析，另外很重要的一個(gè)原因是x射線的制樣更加容易。衍射儀怎么選？上海澤權(quán)告訴您?；窗惭苌鋬x價(jià)格表

高穩(wěn)定性的X射線發(fā)生器控制系統(tǒng)，得到更穩(wěn)定的重復(fù)測(cè)量精度。南京衍射儀代理公司

X射線衍射儀技術(shù)(X-raydiffraction，XRD)。通過(guò)對(duì)材料進(jìn)行X射線衍射，分析其衍射圖譜，獲得材料的成分、材料內(nèi)部原子或分子的結(jié)構(gòu)或形態(tài)等信息的研究手段。X射線衍射分析法是研究物質(zhì)的物相和晶體結(jié)構(gòu)的主要方法。當(dāng)某物質(zhì)(晶體或非晶體)進(jìn)行衍射分析時(shí),該物質(zhì)被X射線照射產(chǎn)生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質(zhì)組成、晶型、分子內(nèi)成鍵方式、分子的構(gòu)型、構(gòu)象等決定該物質(zhì)產(chǎn)生特有的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無(wú)污染、快捷、測(cè)量精度高、能得到有關(guān)晶體完整性的大量信息等優(yōu)點(diǎn)。因此,X射線衍射分析法作為材料結(jié)構(gòu)和成分分析的一種現(xiàn)代科學(xué)方法,已逐步在各學(xué)科研究和生產(chǎn)中廣泛應(yīng)用。南京衍射儀代理公司

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