河南土壤重金屬分析儀供應

來源: 發(fā)布時間:2023-02-23

XRF分析儀如何測量涂層厚度: 準確的厚度測量結(jié)果有助于制造商提供質(zhì)量上乘的產(chǎn)品,同時還可以控制成本。涂層的厚度應該恰到好處;產(chǎn)品的涂層太厚會增加制造成本??蛻魧砹线M行質(zhì)量控制時,也會對涂層進行檢測:確保所接收來料使用的是正確的涂層材料,且涂層的厚度準確無誤。 取決于不同的材料,奧林巴斯Vanta手持式XRF分析儀可以測量范圍從0.00到約60.00微米的涂層厚度。分析儀發(fā)出X射線,X射線撞擊到被測樣本,使樣本發(fā)出熒光。分析儀探測到返回的X射線,并使用獲得的數(shù)據(jù)計算涂層的厚度。 根據(jù)國際材料工程師和科學家協(xié)會(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,屬于這個范圍的各種表面工程技術(shù)包括電鍍(機械、化學、電解)、蒸發(fā)(化學和物理沉積)和粘合(樹脂或漆料)。在XRF分析儀的分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。河南土壤重金屬分析儀供應

分析儀可以在-10 °C到50 °C的溫度范圍內(nèi)連續(xù)正常工作,因此操作人員只需很短的時間等待分析儀冷卻。** C系列和M系列型號分析儀配備有探測器快門閘保護,可避免分析儀受到穿孔損傷,因此用戶可以對粗糙的表面進行分析,而絲毫不用擔心分析儀會損壞。 M系列分析儀符合IP64評級標準。 帶有可選風扇。 風扇裝配件符合IP56評級標準。 在33 °C沒有風扇的情況下,可以連續(xù)工作。 改進創(chuàng)新 從一次檢測開始直到一百次檢測,Vanta分析儀每次都能為用戶提供相同的精確結(jié)果。 Vanta系列分析儀所特有的Axon技術(shù),使用**噪聲電子設備,在每秒鐘之內(nèi)可達到更高的X射線計數(shù)率,從而可以更快的速度獲得精確的、重復性非常高的結(jié)果。 由于Vanta分析儀將Axon技術(shù)與新款四核處理器結(jié)合在一起使用,因而這款分析儀具有非同尋常的響應能力,在操作性能上達到新的突破,可使用戶在短時間內(nèi)獲得更值得信賴的分析結(jié)果。 Axon技術(shù)可使不同Vanta儀器的各次檢測都具有非同一般的高重復性能,因此無論用戶使用的是哪臺儀器,其一次檢測與其較后一次檢測都會是相同的。浙江三元鋰電池分析儀供求對作為用戶資產(chǎn)的分析儀進行保護非常重要,特別是在分析儀檢測削屑或其他尖利物件時。

球磨機是一種用于研磨或混合多種材料的磨具設備,應用領域包括礦物加工、涂料、煙火制造和陶瓷工業(yè)等。球磨機采用中空外殼形態(tài),內(nèi)部填充部分球體(通常是鋼球、陶瓷球或橡膠球,也稱為球磨子)。外殼繞軸轉(zhuǎn)動,球體在材料的加工過程中升降起伏,這樣夾在球體之間的顆粒就被磨碎了。 手持式 XRF 分析儀有助于降低成本,確保研磨介質(zhì)的質(zhì)量: 采礦和工業(yè)設施利用球磨機研磨攪拌特性來加工礦物材料,使用正確材料制造的球體有助于確保穩(wěn)定性,從而實現(xiàn)較高研磨質(zhì)量。

當今先進的技術(shù): 分析儀采用了X射線管光源、多光束過濾技術(shù)、以及個人數(shù)位助理技術(shù),從而使其采測范圍、檢測速度、檢測精度都非常出色,并具有極好的升級潛力。 ·在檢測鉻與其他金屬的能力方面有著非常優(yōu)越的表現(xiàn)。本機可使用光元素分析程式來分析磷、硫、氯、鉀、鈣等金屬成份。 ·使用了先進的和多用途的x射線資料模式:采用康普頓常態(tài)化校正方法:可以利用“內(nèi)部標準”來進行定量分析,而不需要進行專門的校正。基本參數(shù):采用半定量分析方式,適合于檢驗各種不同元素的構(gòu)成的結(jié)構(gòu)密度不均勻的樣品。實驗校正法:利用“校正曲線”進行校正,允許使用用戶產(chǎn)生的校正曲線。 ·可以很容易地加入新的元素成份,很容易進行校正。因此,Innov-X a-4000分析儀能夠滿足您當前和未來的需求。 ·可以在顯示熒幕上觀看光譜。XRF分析儀具有諸多優(yōu)點,包括操作便捷、樣品無損檢測、測試樣品可以是任何形狀等等。

在XRF分析法中,從X光發(fā)射管里放射出來的高能初級射線光子會撞擊樣本元素。這些初級光子含有足夠的能量可以將較里層即K層或L層的電子撞擊脫軌。這時,原子變成了不穩(wěn)定的離子。由于電子本能會尋求穩(wěn)定,外層L層或M層的電子會進入彌補內(nèi)層的空間。在這些電子從外層進入內(nèi)層的過程中,它們會釋放出能量,我們稱之為二次X射線光子。而整個過程則稱為螢光輻射。每種元素的二次射線都各有特征。而X射線光子螢光輻射產(chǎn)生的能量是由電子轉(zhuǎn)換過程中內(nèi)層和外層之間的能量差決定的。例如,鐵原子Fe的Kα能量大約是6.4千電子伏。特定元素在一定時間內(nèi)所放射出來的X射線的數(shù)量或者密度,能夠用來衡量這種元素的數(shù)量。典型的XRF能量分布光譜顯示了不同能量時光子密度的分布情況。合金分析儀主要用于**、航天、鋼鐵、石化、電力、制藥等領域金屬材料中元素成份的現(xiàn)場測定。上海奧林巴斯分析儀價格

分析儀的屏幕上直接顯示清晰的檢測結(jié)果。河南土壤重金屬分析儀供應

Vanta分析儀的鍍層模式 元素配置:可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素,包括鈦元素。同一種元素不能在多個涂層中被重復分析,包括基底材料。 可選的實證單點校準:用戶可以使用一種內(nèi)部認證的樣本對校準進行調(diào)整。 層的數(shù)量:Vanta分析儀的鍍層模式可以較多測量3層材料的厚度,不過各層材料要足夠薄,以使X射線從底層材料返回到探測器。 基底:可以分析任何基底材料,只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素。奧林巴斯XRF光譜儀是合金材料檢測理想的現(xiàn)場無損分析儀,醫(yī)療設備制造商很需要的一款簡易、精確、快速的分析儀器。河南土壤重金屬分析儀供應

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