上海電子元件可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

為了穩(wěn)定地生產(chǎn)產(chǎn)品，有時(shí)需要對(duì)每個(gè)產(chǎn)品都要按產(chǎn)品技術(shù)條件規(guī)定的項(xiàng)目進(jìn)行可靠性測(cè)試。此外還需要逐批或按一定期限進(jìn)行可靠性抽樣測(cè)試。通過對(duì)產(chǎn)品的可靠性測(cè)試就可以了解產(chǎn)品質(zhì)量的穩(wěn)定程度了。若因原材料質(zhì)量較差或工藝流程失控等原因造成產(chǎn)品質(zhì)量下降，在產(chǎn)品的可靠性測(cè)試中就能反映出來，從而可及時(shí)采取糾正措施使產(chǎn)品質(zhì)量恢復(fù)正常。通過產(chǎn)品的可靠性測(cè)試（包括模擬測(cè)試和現(xiàn)場使用測(cè)試）就可以了解產(chǎn)品在不同環(huán)境，及不同應(yīng)力條件下的失效模式與失效規(guī)律。可靠性測(cè)試操作的時(shí)候需要注意什么？上海電子元件可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

上海天梯檢測(cè)——輸入瞬態(tài)高壓測(cè)試 PFC電路采用平均值電路進(jìn)行過欠壓保護(hù)，因此在輸入瞬態(tài)高壓時(shí)，PFC電路可能會(huì)很快實(shí)現(xiàn)保護(hù)，從而造成損壞，測(cè)試一次電源模塊在瞬態(tài)情況下的穩(wěn)定運(yùn)行能力以評(píng)估可靠性。 測(cè)試方法： A、額定電壓輸入，用雙蹤示波器測(cè)試輸入電壓波形合過壓保護(hù)信號(hào)，輸入電壓從限功率點(diǎn)加5V跳變?yōu)?00V，從示波器上讀出過壓保護(hù)**00V的周期數(shù)N，作為以下試驗(yàn)的依據(jù)。 B、額定輸入電壓，電源模塊帶滿載運(yùn)行，在輸入上疊加300V的電壓跳變，疊加的周期數(shù)為（N－1），疊加頻率為1次/30s，共運(yùn)行3小時(shí)。上海外殼可靠性測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)可靠性測(cè)試可以分為哪些呢？

測(cè)試可靠性的較簡單的一個(gè)方法是使用隨機(jī)輸入，這種類型的測(cè)試通過提供虛假的不合邏輯的輸入，努力使應(yīng)用程序發(fā)生故障或掛起。輸入可以是鍵盤或鼠標(biāo)事件、程序消息流、Web頁、數(shù)據(jù)緩存或任何其他可強(qiáng)制進(jìn)入應(yīng)用程序的輸入情況。應(yīng)該使用隨機(jī)破壞測(cè)試測(cè)試重要的錯(cuò)誤路徑，并公開軟件中的錯(cuò)誤。這種測(cè)試通過強(qiáng)制失敗以便可以觀察返回的錯(cuò)誤處理來改進(jìn)代碼質(zhì)量。在隔離的受保護(hù)的測(cè)試環(huán)境中可靠的軟件，在真實(shí)環(huán)境的部署中可能并不可靠。雖然隔離測(cè)試在早期的可靠性測(cè)試進(jìn)程中是有用的，但真實(shí)環(huán)境的測(cè)試環(huán)境才能確保并行應(yīng)用程序不會(huì)彼此干擾。

一般的可靠性測(cè)試項(xiàng)目包含哪些內(nèi)容呢？ 綜合環(huán)境測(cè)試：溫度+濕度+振動(dòng)/沖擊/碰撞、HALT/HASS/HASA、溫濕度堆碼試驗(yàn)、高壓蒸煮試驗(yàn)。 包材及包裝運(yùn)輸測(cè)試：環(huán)境溫濕度測(cè)試、堆碼測(cè)試、包裝抗壓測(cè)試、振動(dòng)測(cè)試、沖擊測(cè)試、跌落測(cè)試、碰撞測(cè)試、水平夾持測(cè)試、低氣壓測(cè)試。 物理性能測(cè)試：百格測(cè)試、耐磨測(cè)試、劃痕測(cè)試、插拔測(cè)試、彎折測(cè)試、色牢度測(cè)試、防火/燃燒測(cè)試;搖擺測(cè)試、按鍵壽命測(cè)試、硬度測(cè)試、落錘沖擊/擺錘沖擊測(cè)試、拉伸強(qiáng)度/抗壓強(qiáng)度/屈服強(qiáng)度測(cè)試、熔融測(cè)試。 電磁兼容環(huán)境測(cè)試：射頻性能測(cè)試、SAR測(cè)試、OTA測(cè)試、HAC測(cè)試、TCOIL測(cè)試、數(shù)字電視機(jī)性能測(cè)試、音視頻產(chǎn)品性能測(cè)試、衛(wèi)星導(dǎo)航產(chǎn)品(GPS)性能測(cè)試、平板顯示性能測(cè)試、中國醫(yī)療器械注冊(cè)檢測(cè)、中國電信進(jìn)網(wǎng)許可檢測(cè)可靠性試驗(yàn)的目的以及分類都有那些?

先來看看MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，它指的是：環(huán)境工程考察和實(shí)驗(yàn)室測(cè)試。它是一項(xiàng)美國jun用標(biāo)準(zhǔn)，強(qiáng)調(diào)通過環(huán)境測(cè)試手段，發(fā)現(xiàn)問題，反復(fù)修改設(shè)備的初始設(shè)計(jì)完善產(chǎn)品。簡單的說，就是筆記本從*初設(shè)計(jì)到用料選材再到制造的整個(gè)環(huán)節(jié)都必須嚴(yán)格符合軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)，只有這樣*終才能夠順利通過MIL-STD-810G軍規(guī)標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試。

下面是MIL-STD-810G的幾個(gè)重要測(cè)試項(xiàng)目：

跌落測(cè)試：顧名思義就是把產(chǎn)品托舉到一定高度，然后使其自由落體，之后再檢查它是否完好。該測(cè)試模擬我們?nèi)粘９ぷ髦胁簧鲗⒐P記本跌落的狀況。

加速度沖擊性測(cè)試：筆記本在工作臺(tái)上被物體以加速形態(tài)沖撞，然后落地，基本就是模擬受到突發(fā)性沖撞。

耐久度測(cè)試：主要考察筆記本頻繁使用過程中的可靠性，尤其考驗(yàn)轉(zhuǎn)軸、排線等配件，該項(xiàng)測(cè)試一般都會(huì)經(jīng)歷幾十萬次開合。 安全性測(cè)試與可靠性測(cè)試有什么區(qū)別？老化試驗(yàn)可靠性測(cè)試中英文檢測(cè)報(bào)告

可靠性環(huán)境測(cè)試是測(cè)試公司為各行業(yè)所推出的與環(huán)境有關(guān)的技術(shù)服務(wù)。上海電子元件可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

上海天梯檢測(cè)技術(shù)有限公司可靠性試驗(yàn)?zāi)康模?可靠性已經(jīng)列為產(chǎn)品的重要質(zhì)量指標(biāo)加以考核和檢驗(yàn)。長期以來，人們只用產(chǎn)品的技術(shù)性能指標(biāo)作為衡量電子元器件質(zhì)量好壞的標(biāo)志，這只反映了產(chǎn)品質(zhì)量好壞的一個(gè)方面，還不能反映產(chǎn)品質(zhì)量的全貌。因?yàn)椋绻a(chǎn)品不可靠，即使其技術(shù)性能再好也得不到發(fā)揮。從某種意義上說，可靠性可以綜合反映產(chǎn)品的質(zhì)量。 可靠性工程是一個(gè)綜合的學(xué)科，它的發(fā)展可以帶動(dòng)和促進(jìn)產(chǎn)品的設(shè)計(jì)、制造、使用、材料、工藝、設(shè)備和管理的發(fā)展，把電子元器件和其它電子產(chǎn)品提高到一個(gè)新的水平。正因?yàn)檫@樣，可靠性已形成一個(gè)專門的學(xué)科，作為一個(gè)專門的技術(shù)進(jìn)行研究。上海電子元件可靠性測(cè)試實(shí)驗(yàn)室

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