上海強(qiáng)穿透工業(yè)CT測試

來源: 發(fā)布時(shí)間:2020-01-11

phoenix

v|tome|x m


—— 多功能的X射線微聚焦CT系統(tǒng),用于三維計(jì)量和分析,高達(dá)300kV/500W

      在phoenix v|tome|x m中,GE公司獨(dú)特的300千伏微焦點(diǎn)X射線管是***安裝于緊湊的CT系統(tǒng),用于工業(yè)過程控制和科研應(yīng)用。 該系統(tǒng)可以進(jìn)行向下1米內(nèi)的詳細(xì)探測,提供300千伏下業(yè)內(nèi)***的放大倍率,并以其GE的高動(dòng)態(tài)DXR數(shù)字探測器陣列和點(diǎn)擊與測量| CT(click & measure | CT)自動(dòng)化功能成為工業(yè)檢測和科研的有效的三維工具。

該系統(tǒng)具備雙|管配置,可以為各種樣本范圍提供詳細(xì)的三維信息: 從低吸收樣品的高分辨率 nanoCT®到渦輪葉片檢驗(yàn)等的高功率CT應(yīng)用。 航空葉片三維CT壁厚測量,得到樣品的壁厚參數(shù),不同顏色表示不同壁厚尺寸。上海強(qiáng)穿透工業(yè)CT測試

v|tome|x L 300

—— 應(yīng)用:

測量

用X射線進(jìn)行的三維測量是***的可對復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無損測量的技術(shù)。 通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)的對比,對一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無法使用其他測量方法無損進(jìn)入的隱蔽形體,如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度,可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

東北進(jìn)口工業(yè)CT測量錫球焊點(diǎn)開路:錫膏和錫球未融合成一體,以此判斷為失效件。

seifert x-cube-----

更快的周期時(shí)間

來自Fanuc機(jī)器人系統(tǒng)的快速驅(qū)動(dòng)器,使得工作件操作更快且開門關(guān)門速度更快。

Fanuc觸摸控制板中的X-Touch® 技術(shù),簡化并加速了所有的控制操作。其自動(dòng)數(shù)字圖像處理技術(shù)真正地節(jié)省了時(shí)間, 因此縮短了整體周期時(shí)間。

更快速設(shè)置時(shí)間

測量系統(tǒng)在無需啟動(dòng)時(shí)自動(dòng)重置為零,一旦開啟便處于活躍狀態(tài)。

用戶檢測程序也更容易操作,因此書寫更快。

X-cube可與225千伏或160千伏的X射線管共同使用,作為標(biāo)準(zhǔn),有一個(gè)可選的探測器范圍。 因此,分辨率可以匹配,以適合特定用戶的任務(wù)。

v|tome|x L 240

——測量

用X射線進(jìn)行的三維測量是***的可對復(fù)雜物體內(nèi)部進(jìn)行無損測量的技術(shù)。 通過與傳統(tǒng)的觸覺坐標(biāo)測量技術(shù)的對比,對一個(gè)物體進(jìn)行計(jì)算機(jī)斷層掃描的同時(shí)可獲得所有的曲面點(diǎn) - 包括所有無法使用其他測量方法無損進(jìn)入的隱蔽形體,如底切。 v|tome|x s 有一個(gè)特殊的三維測量包,其中包含空間測量所需的所有工具,從校準(zhǔn)儀器到表面提取模塊,具有可能的***大精度,可再現(xiàn)且具有親和力. 除了二維壁厚測量,CT體數(shù)據(jù)可以快速方便地與CAD數(shù)據(jù)進(jìn)行比較,例如,分析完成元件,以確保其符合所有的規(guī)定尺寸。

CT技術(shù)之 - 三維表面提取。

v|tome|x L 450

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主要功能


450千伏/ 1500 瓦雙***焦點(diǎn)X射線管 - 專門優(yōu)化以應(yīng)用于CT

    - 以金屬/陶瓷材料設(shè)計(jì),用于大型和高吸收的樣品的清晰的CT掃描

高達(dá)10倍的增加的燈絲壽命,通過長壽命的|燈絲(可選)確保了長期穩(wěn)定性和***佳系統(tǒng)效率

通過高動(dòng)態(tài)溫度穩(wěn)定的GE DXR數(shù)字探測器獲取的30 FPS(幀每秒)(可選)的快速CT采集和清晰的活動(dòng)影像

材料科學(xué)

高分辨率計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro

ct 與 nano ct)用于檢測材料、復(fù)合材料、燒結(jié)材料和陶瓷,但也用來對地質(zhì)或生物樣品進(jìn)行分析。

材料分配、空隙率和裂縫在微觀分辨率上是三維可視的。

對肉眼無法看到的樣品內(nèi)部信息,GE Phoenix CT設(shè)備有著獨(dú)到的處理手法。東北原裝進(jìn)口工業(yè)CT測試

動(dòng)態(tài)砂礫破壞過程:研究孔隙與裂縫發(fā)育與發(fā)展、受力方式方向。上海強(qiáng)穿透工業(yè)CT測試

phoenix v|tome|x s

——應(yīng)用案例展示 

 三維計(jì)算機(jī)斷層掃描

 工業(yè)X射線三維計(jì)算機(jī)斷層掃描(micro ct 與 nano ct) 的經(jīng)典應(yīng)用是對金屬和塑料鑄件的檢測和三維測量。然而, phoenix| X射線的高分辨率X射線技術(shù)開辟了在眾多領(lǐng)域的新應(yīng)用,如傳感器技術(shù)、電子、材料科學(xué)以及許多其他自然科學(xué)。

 微焦點(diǎn)CT(micro

 ct)顯示一個(gè)表達(dá)式探針: 箱子的焊縫、壓接連接、探頭的幾何排列、和陶瓷傳感器的情況。

 通過 VELO | CT在幾秒鐘或幾分鐘內(nèi)(取決于體積大小)完成更快的三維CT重建。

上海強(qiáng)穿透工業(yè)CT測試

英華檢測(上海)有限公司致力于儀器儀表,以科技創(chuàng)新實(shí)現(xiàn)***管理的追求。英華檢測深耕行業(yè)多年,始終以客戶的需求為向?qū)?,為客戶提?**的工業(yè)CT,工業(yè)CT檢測服務(wù)。英華檢測致力于把技術(shù)上的創(chuàng)新展現(xiàn)成對用戶產(chǎn)品上的貼心,為用戶帶來良好體驗(yàn)。英華檢測始終關(guān)注儀器儀表行業(yè)。滿足市場需求,提高產(chǎn)品價(jià)值,是我們前行的力量。

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