雙面板的鍍層厚度測量方法是什么？?

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深圳市聯(lián)合多層線路板有限公司2025-08-20

雙面板的鍍層厚度測量方法常用 X 射線熒光法（XRF），精度 ±0.01μm，測量點覆蓋鍍層不同區(qū)域（邊緣、中心），鎳層測 3 點取平均（≥3μm），金層測 5 點取平均（≥0.05μm），確保符合設計要求和焊接可靠性。?

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簡介：專注于PCB板制造，廣泛應用于智能電子、通訊、電源、工業(yè)控制等領域。公司具備強大產能和高效交付能力。

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