EVG?520IS晶圓鍵合系統(tǒng)■擁有EVG?501和EVG?510鍵合機(jī)的所有功能■200mm的單個(gè)或者雙腔自動(dòng)化系統(tǒng)■自動(dòng)晶圓鍵合流程和晶圓替代轉(zhuǎn)移■集成冷卻站，實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量EVG?540自動(dòng)鍵合系統(tǒng)■300mm單腔鍵合室■自動(dòng)處理多達(dá)4個(gè)鍵合卡盤■模塊化鍵合...

什么是YONG久鍵合系統(tǒng)呢？EVG晶圓鍵合方法的引入將鍵合對準(zhǔn)與鍵合步驟分離開來，立即在業(yè)內(nèi)掀起了市場GEMING。利用高溫和受控氣體環(huán)境下的高接觸力，這種新穎的方法已成為當(dāng)今的工藝標(biāo)準(zhǔn)，EVG的鍵合機(jī)設(shè)備占據(jù)了半自動(dòng)和全自動(dòng)晶圓鍵合機(jī)的主要市場份額，并且安裝...

Plessey工程副總裁JohnWhiteman解釋說：“GEMINI系統(tǒng)的模塊化設(shè)計(jì)非常適合我們的需求。在一個(gè)系統(tǒng)中啟用預(yù)處理，清潔，對齊（對準(zhǔn)）和鍵合，這意味著擁有更高的產(chǎn)量和生產(chǎn)量。EVG提供的有質(zhì)服務(wù)對于快速有效地使系統(tǒng)聯(lián)機(jī)至關(guān)重要?！盓VG的執(zhí)行技術(shù)...

一旦將晶片粘合在一起，就必須測試粘合表面，看該工藝是否成功。通常，將批處理過程中產(chǎn)生的一部分產(chǎn)量留給破壞性和非破壞性測試方法使用。破壞性測試方法用于測試成品的整體剪切強(qiáng)度。非破壞性方法用于評(píng)估粘合過程中是否出現(xiàn)了裂紋或異常，從而有助于確保成品沒有缺陷。EVGr...

一旦認(rèn)為模具有缺陷，墨水標(biāo)記就會(huì)滲出模具，以便于視覺隔離。典型的目標(biāo)是在100萬個(gè)管芯中，少于6個(gè)管芯將是有缺陷的。還需要考慮其他因素，因此可以優(yōu)化芯片恢復(fù)率。質(zhì)量體系確保模具的回收率很高。晶圓邊緣上的裸片經(jīng)常會(huì)部分丟失。芯片上電路的實(shí)際生產(chǎn)需要時(shí)間和資源。為...

二、EVG501晶圓鍵合機(jī)特征：帶有150mm或200mm加熱器的鍵合室獨(dú)特的壓力和溫度均勻性與EVG的機(jī)械和光學(xué)對準(zhǔn)器兼容靈活的設(shè)計(jì)和研究配置從單芯片到晶圓各種工藝（共晶，焊料，TLP，直接鍵合）可選渦輪泵（<1E-5mbar）可升級(jí)陽極鍵合開放式腔室設(shè)計(jì)，...

在鍵合過程中，將兩個(gè)組件的表面弄平并徹底清潔以確保它們之間的緊密接觸。然后它們被夾在兩個(gè)電極之間，加熱至752-932℃（華氏400-500攝氏度），和幾百到千伏的電勢被施加，使得負(fù)電極，這就是所謂的陰極，是在接觸在玻璃中，正極（陽極）與硅接觸。玻璃中帶正電的...

EVG的晶圓鍵合機(jī)鍵合室配有通用鍵合蓋，可快速排空，快速加熱和冷卻。通過控制溫度，壓力，時(shí)間和氣體，允許進(jìn)行大多數(shù)鍵合過程。也可以通過添加電源來執(zhí)行陽極鍵合。對于UV固化黏合劑，可選的鍵合室蓋具有UV源。鍵合可在真空或受控氣體條件下進(jìn)行。頂部和底部晶片的獨(dú)li...

鍵合對準(zhǔn)機(jī)系統(tǒng) 1985年，隨著世界上di一個(gè)雙面對準(zhǔn)系統(tǒng)的發(fā)明，EVG革新了MEMS技術(shù)，并通過分離對準(zhǔn)和鍵合工藝在對準(zhǔn)晶圓鍵合方面樹立了全球行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)。這種分離導(dǎo)致晶圓鍵合設(shè)備具有更高的靈活性和通用性。EVG的鍵合對準(zhǔn)系統(tǒng)提供了蕞/高的精度，靈活性和易用性以...

EVG?301技術(shù)數(shù)據(jù)晶圓直徑（基板尺寸）：200和100-300毫米清潔系統(tǒng)開室，旋轉(zhuǎn)器和清潔臂腔室：由PP或PFA制成（可選）清潔介質(zhì)：去離子水（標(biāo)準(zhǔn)），其他清潔介質(zhì)（可選）旋轉(zhuǎn)卡盤：真空卡盤（標(biāo)準(zhǔn)）和邊緣處理卡盤（選件），由不含金屬離子的清潔材料制成旋轉(zhuǎn)...

一旦認(rèn)為模具有缺陷，墨水標(biāo)記就會(huì)滲出模具，以便于視覺隔離。典型的目標(biāo)是在100萬個(gè)管芯中，少于6個(gè)管芯將是有缺陷的。還需要考慮其他因素，因此可以優(yōu)化芯片恢復(fù)率。質(zhì)量體系確保模具的回收率很高。晶圓邊緣上的裸片經(jīng)常會(huì)部分丟失。芯片上電路的實(shí)際生產(chǎn)需要時(shí)間和資源。為...

該技術(shù)用于封裝敏感的電子組件，以保護(hù)它們免受損壞，污染，濕氣和氧化或其他不良化學(xué)反應(yīng)。陽極鍵合尤其與微機(jī)電系統(tǒng)（MEMS）行業(yè)相關(guān)聯(lián)，在該行業(yè)中，陽極鍵合用于保護(hù)諸如微傳感器的設(shè)備。陽極鍵合的主要優(yōu)點(diǎn)是，它可以產(chǎn)生牢固而持久的鍵合，而無需粘合劑或過高的溫度，而...

在將半導(dǎo)體晶圓切割成子部件之前，有機(jī)會(huì)使用自動(dòng)步進(jìn)測試儀來測試它所攜帶的眾多芯片，這些測試儀將測試探針順序放置在芯片上的微觀端點(diǎn)上，以激勵(lì)和讀取相關(guān)的測試點(diǎn)。這是一種實(shí)用的方法，因?yàn)橛腥毕莸男酒粫?huì)被封裝到ZUI終的組件或集成電路中，而只會(huì)在ZUI終測試時(shí)被拒...

根據(jù)型號(hào)和加熱器尺寸，EVG500系列鍵合機(jī)可以用于碎片和50mm至300mm的晶圓。這些工具的靈活性非常適合中等批量生產(chǎn)、研發(fā)，并且可以通過簡單的方法進(jìn)行大批量生產(chǎn)，因?yàn)殒I合程序可以轉(zhuǎn)移到EVGGEMINI大批量生產(chǎn)系統(tǒng)中。鍵合室配有通用鍵合蓋，可快速排空，...

對準(zhǔn)晶圓鍵合是晶圓級(jí)涂層，晶圓級(jí)封裝，工程襯底zhizao，晶圓級(jí)3D集成和晶圓減薄方面很有用的技術(shù)。反過來，這些工藝也讓MEMS器件，RF濾波器和BSI（背面照明）CIS（CMOS圖像傳感器）的生產(chǎn)迅速增長。這些工藝也能用于制造工程襯底，例如SOI（絕緣體上...

完美的多用戶概念（無限數(shù)量的用戶帳戶，各種訪問權(quán)限，不同的用戶界面語言） 桌面系統(tǒng)設(shè)計(jì)，占用空間蕞小 支持紅外對準(zhǔn)過程 EVG?610BA鍵合機(jī)技術(shù)數(shù)據(jù) 常規(guī)系統(tǒng)配置 桌面 系統(tǒng)機(jī)架：可選 隔振：被動(dòng) 對準(zhǔn)方法 背面對準(zhǔn)：±2μm3σ 透明對準(zhǔn)：±1μm3σ ...

半導(dǎo)體晶圓（晶片）的直徑為4到10英寸（10.16到25.4厘米）的圓盤，在制造過程中可承載非本征半導(dǎo)體。它們是正（P）型半導(dǎo)體或負(fù)（N）型半導(dǎo)體的臨時(shí)形式。硅晶片是非常常見的半導(dǎo)體晶片，因?yàn)楣枋钱?dāng)夏流行的半導(dǎo)體，這是由于其在地球上的大量供應(yīng)。半導(dǎo)體晶圓是從錠...

半導(dǎo)體器件的垂直堆疊已經(jīng)成為使器件密度和性能不斷提高的日益可行的方法。晶圓間鍵合是實(shí)現(xiàn)3D堆疊設(shè)備的重要工藝步驟。然而，需要晶片之間的緊密對準(zhǔn)和覆蓋精度以在鍵合晶片上的互連器件之間實(shí)現(xiàn)良好的電接觸，并蕞小化鍵合界面處的互連面積，從而可以在晶片上騰出更多空間用于...

EVG?810LT LowTemp?等離子基活系統(tǒng) 適用于SOI，MEMS，化合物半導(dǎo)體和先進(jìn)基板鍵合的低溫等離子體活化系統(tǒng) 特色 技術(shù)數(shù)據(jù) EVG810LTLowTemp?等離子活化系統(tǒng)是具有手動(dòng)操作的單腔獨(dú)力單元。處理室允許進(jìn)行異位處理（晶圓被一一基活并結(jié)...

晶圓級(jí)封裝的實(shí)現(xiàn)可以帶來許多經(jīng)濟(jì)利益。它允許晶圓制造，封裝和測試的集成，從而簡化制造過程?？s短的制造周期時(shí)間可提高生產(chǎn)量并降低每單位制造成本。晶圓級(jí)封裝還可以減小封裝尺寸，從而節(jié)省材料并進(jìn)一步降低生產(chǎn)成本。然而，更重要的是，減小的封裝尺寸允許組件用于更廣范的高...

晶圓級(jí)封裝的實(shí)現(xiàn)可以帶來許多經(jīng)濟(jì)利益。它允許晶圓制造，封裝和測試的集成，從而簡化制造過程?？s短的制造周期時(shí)間可提高生產(chǎn)量并降低每單位制造成本。晶圓級(jí)封裝還可以減小封裝尺寸，從而節(jié)省材料并進(jìn)一步降低生產(chǎn)成本。然而，更重要的是，減小的封裝尺寸允許組件用于更廣范的高...

Smart View NT鍵合機(jī)特征 適合于自動(dòng)化和集成EVG鍵合系統(tǒng)（EVG560?，GEMINI ? 200和300mm配置） 用于3D互連，晶圓級(jí)封裝和大批量MEMS器件的晶圓堆疊 通用鍵合對準(zhǔn)器（面對面，背面，紅外和透明對準(zhǔn)） 無需Z軸運(yùn)動(dòng)，也無需重新...

晶圓缺陷檢測設(shè)備主要用于檢測半導(dǎo)體晶圓表面的缺陷，以確保晶圓質(zhì)量符合制造要求。其作用包括：1、檢測晶圓表面的缺陷，如裂紋、坑洼、氧化、污染等，以保證晶圓的質(zhì)量。2、幫助制造商提高生產(chǎn)效率，減少生產(chǎn)成本，提高晶圓的可靠性和穩(wěn)定性。3、提高產(chǎn)品質(zhì)量，減少不良品率，...

薄膜應(yīng)力分析儀產(chǎn)品特點(diǎn)：1. 非接觸式測量：薄膜應(yīng)力分析儀使用激光光學(xué)干涉技術(shù)進(jìn)行測量，無需接觸樣品表面，避免了傳統(tǒng)拉力測試所帶來的樣品形變和變形的影響。2. 高測量精度：傳感器的特定位置，結(jié)合計(jì)算機(jī)算法，能夠十分準(zhǔn)確測量樣品在面內(nèi)方向的表面形變，從而計(jì)算出材...

薄膜應(yīng)力分析儀可以用來做什么？薄膜應(yīng)力分析儀主要用于測量薄膜材料的應(yīng)力和形變，可以得出薄膜的應(yīng)力狀態(tài)、力學(xué)性能和穩(wěn)定性等參數(shù)。具體應(yīng)用領(lǐng)域包括：1. 薄膜材料的質(zhì)量控制和生產(chǎn)過程的優(yōu)化；2. 薄膜材料的力學(xué)性能研究，如彈性模量、屈服強(qiáng)度、斷裂韌性等；3. 薄膜...

晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)在自動(dòng)化生產(chǎn)中的優(yōu)勢有以下幾點(diǎn)：1、高效性：晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)采用高速圖像處理技術(shù)，能夠快速準(zhǔn)確地檢測晶圓表面的缺陷，提高了生產(chǎn)效率。2、精確性：晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)能夠檢測到微小的缺陷，如1微米以下的缺陷，確保產(chǎn)品質(zhì)量，提高了制造精度。...

薄膜應(yīng)力分析儀存儲(chǔ)注意事項(xiàng)：1. 存放環(huán)境：薄膜應(yīng)力分析儀應(yīng)該存放在干燥、通風(fēng)、不受陽光直射和震動(dòng)的環(huán)境中，因?yàn)閮x器本身是精密的測試設(shè)備，需要保持穩(wěn)定的環(huán)境以防止損壞或者機(jī)械性能損失。2. 電源管理：在長時(shí)間不使用薄膜應(yīng)力分析儀時(shí)，應(yīng)該將其拔掉電源并存儲(chǔ)在干燥...

晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)如何進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析？晶圓缺陷檢測光學(xué)系統(tǒng)進(jìn)行數(shù)據(jù)處理和分析通常分為以下幾個(gè)步驟：1、圖像預(yù)處理：首先對采集到的缺陷圖像進(jìn)行預(yù)處理，包括去除噪聲、調(diào)整圖像亮度和對比度等。2、特征提?。涸陬A(yù)處理后的缺陷圖像中提取特征，主要包括形狀、大小、位...

薄膜應(yīng)力分析儀可以通過改變測試參數(shù)，測出薄膜在不同深度處的應(yīng)力分布。這對于研究薄膜的形變機(jī)制、表面失穩(wěn)等問題有很大的幫助。薄膜應(yīng)力分析儀的使用方法相對簡單，只需將待測樣品放在樣品臺(tái)上，啟動(dòng)儀器后進(jìn)入軟件控制界面進(jìn)行調(diào)整和測試。在采集到的數(shù)據(jù)上，可以通過各種方法...

薄膜應(yīng)力分析儀需要哪些前置條件？1. 樣品制備：薄膜應(yīng)力分析儀需要在光學(xué)平臺(tái)上測量薄膜的應(yīng)力及其它特性，因此需要準(zhǔn)備平整、光潔、打磨去背的樣品。樣品制備應(yīng)根據(jù)具體實(shí)驗(yàn)要求進(jìn)行。2. 樣品尺寸：薄膜應(yīng)力分析儀通常對于樣品的尺寸有一定的要求，需要根據(jù)實(shí)驗(yàn)要求和儀...