可靠性測(cè)試設(shè)備對(duì)芯片生產(chǎn)的重要性：可靠性測(cè)試設(shè)備是半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)發(fā)展中的重要環(huán)節(jié)。據(jù)了解，可靠性測(cè)試設(shè)備能夠模擬環(huán)境并通過檢測(cè)確保產(chǎn)品達(dá)到在研發(fā)、設(shè)計(jì)、制造中預(yù)期的質(zhì)量目標(biāo)。而這種檢測(cè)方式一方面可以保障企業(yè)產(chǎn)品品質(zhì)，同時(shí)也能夠提升企業(yè)產(chǎn)品在市場(chǎng)中的競(jìng)爭(zhēng)力。其中，半...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備注意保管事項(xiàng)：（1）領(lǐng)用歸還儀器要檢查有否損壞，發(fā)現(xiàn)損壞立即上報(bào)，并及時(shí)修復(fù)。（2）要認(rèn)真做好各類儀器的維護(hù)、保養(yǎng)工作，試驗(yàn)儀器要專人管理。（3）實(shí)驗(yàn)人員負(fù)責(zé)儀器的日常保管工作。（4）對(duì)精密儀器要分類，各儀器要定期標(biāo)定檢測(cè)。設(shè)備的維護(hù)：儀器...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備日常維護(hù)：儀器使用一定周期后，內(nèi)部會(huì)積累一定量的塵埃，由維修工程師或在工程師指導(dǎo)下定期開啟儀器外罩對(duì)內(nèi)部進(jìn)行除塵工作，同時(shí)將各發(fā)熱元件的散熱器重新緊固，對(duì)光學(xué)盒的密封窗口進(jìn)行清潔，必要時(shí)對(duì)光路進(jìn)行校準(zhǔn)，對(duì)機(jī)械部分進(jìn)行清潔和必要的潤滑，然后，...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備裝調(diào)試：1. 到貨一期設(shè)備安裝由實(shí)驗(yàn)室相關(guān)人員協(xié)助供應(yīng)商完成。在調(diào)試過程中，要注意檢查配件是否齊全。2. 設(shè)備安裝完畢，項(xiàng)目負(fù)責(zé)人及設(shè)備操作人員按合同、儀器設(shè)備說明書要求，對(duì)儀器設(shè)備各項(xiàng)功能及指標(biāo)進(jìn)行實(shí)驗(yàn)和檢查，檢查其性能指標(biāo)是否與說明書相...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備維護(hù)保養(yǎng)要求及管理制度：設(shè)備維護(hù)保養(yǎng)工作包括：日常維護(hù)保養(yǎng)、設(shè)備的潤滑和定期加油換油、預(yù)防性試驗(yàn)、定期校正精度、設(shè)備的防腐和一級(jí)保養(yǎng)等。設(shè)備的日常維護(hù)保養(yǎng)簡(jiǎn)稱例保，是指操作工每天在設(shè)備使用前、使用過程中和使用后必須進(jìn)行的工作。設(shè)備的日常維護(hù)...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備操作必須做到“四會(huì)”。“四會(huì)”的內(nèi)容，（1）會(huì)使用：熟悉設(shè)備結(jié)構(gòu)，掌握設(shè)備的技術(shù)性能和操作方法，懂得加工工藝，正確使用設(shè)備。（2）會(huì)保養(yǎng)：正確地按潤滑圖表規(guī)定加油、換油，保持油路暢通，油線、油氈、濾油器清潔，認(rèn)真清掃，保持設(shè)備內(nèi)外清潔，無油...

購買芯片HTOL測(cè)試設(shè)備要做好哪些事情？第1，要根據(jù)實(shí)際需要列好詳細(xì)的儀器參數(shù)、建議廠家、型號(hào)。第二，要盡量說服審核部門和領(lǐng)導(dǎo)同意給預(yù)算。第三，驗(yàn)收時(shí)候要根據(jù)實(shí)際需要認(rèn)真驗(yàn)收，有問題及時(shí)發(fā)現(xiàn)早日解決。市場(chǎng)調(diào)研是根據(jù)你確定的儀器配置來進(jìn)行有選擇地尋找供應(yīng)商，讓供...

芯片可靠性測(cè)試設(shè)備測(cè)試注意保證焊接質(zhì)量，焊接時(shí)確實(shí)焊牢，焊錫的堆積、氣孔容易造成虛焊。焊接時(shí)間一般不超過3秒鐘，烙鐵的功率應(yīng)用內(nèi)熱式25W左右。已焊接好的集成電路要仔細(xì)查看，較好用歐姆表測(cè)量各引腳間有否短路，確認(rèn)無焊錫粘連現(xiàn)象再接通電源。測(cè)試儀表內(nèi)阻要大，測(cè)量...

芯片可靠性測(cè)試設(shè)備：1、自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù);2、可靈活配置芯片工作狀態(tài)，并施加信號(hào)，非常方便HTOL Setup;3、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)并記錄環(huán)境溫度，以及每顆芯片電壓，電流，頻率，寄存器狀態(tài)等數(shù)據(jù)，確保芯片處于正常HTOL狀態(tài)，保證HTOL測(cè)試質(zhì)量;4、通過...

芯片HTOL測(cè)試設(shè)備儀器性能驗(yàn)收：儀器投用前，實(shí)驗(yàn)室需進(jìn)行使用性能驗(yàn)收：（1）根據(jù)儀器說明書按操作規(guī)程進(jìn)行單機(jī)或系統(tǒng)實(shí)驗(yàn)，證明該儀器各項(xiàng)技術(shù)參數(shù)達(dá)到規(guī)定要求，并保留測(cè)試的原始記錄。（2）對(duì)于精密儀器，在到貨后可進(jìn)行“3Q”確認(rèn)， 即安裝確認(rèn)(IQ）、操作確認(rèn)(...

芯片可靠性測(cè)試設(shè)備安裝的人員注意事項(xiàng)有哪些？請(qǐng)使用干布擦拭設(shè)備，不要使用酒精、汽油或其他有機(jī)溶劑，不要把水濺到儀表上，如果儀表漫入水中，請(qǐng)立即停止使用，否則有漏電、觸電或火災(zāi)的危險(xiǎn)。設(shè)備內(nèi)部零件有一定的壽命期限，為持續(xù)安全地使用本儀表，希望定期進(jìn)行保養(yǎng)和維護(hù)報(bào)...

進(jìn)一步的，對(duì)所述閃存參考單元進(jìn)行編譯，包括：在所述源極上施加***編程電壓，在所述漏極上施加第二編程電壓，在所述控制柵上施加第三編程電壓，在所述襯底上施加第四編程電壓；其中，所述***編程電壓小于所述第二編程電壓；所述第二編程電壓小于所述第三編程電...

芯片HTOL測(cè)試項(xiàng)目柔性開發(fā)，芯片HTOL測(cè)試自研設(shè)備。上海頂策科技有限公司自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。提供可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可...

芯片HTOL測(cè)試如何做到省力省心？上海頂策科技有限公司，提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯...

技術(shù)實(shí)現(xiàn)要素：本發(fā)明提供了一種閃存htol測(cè)試方法，以解決閃存htol測(cè)試中讀點(diǎn)失效的問題。本發(fā)明提供的閃存htol測(cè)試方法，包括：提供待測(cè)閃存，所述閃存包括閃存參考單元和閃存陣列單元；所述閃存參考單元中捕獲有空穴；對(duì)所述閃存參考單元循環(huán)進(jìn)行編譯和...

3.試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)試驗(yàn)方法備注JESD22-A108F-20171.應(yīng)力持續(xù)時(shí)間應(yīng)符合要求，在必要時(shí)進(jìn)行測(cè)量；2.如果制造商提供了驗(yàn)證數(shù)據(jù)，不需要在偏置下進(jìn)行冷卻。中斷偏置1min，不應(yīng)認(rèn)為消除了偏置。1.測(cè)量所用時(shí)間不應(yīng)納入器件試驗(yàn)時(shí)間；2.偏置指...

提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制...

自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)間、FA成本，讓HTOL問題更容易分析，更有追溯性，讓報(bào)告更有說服力，下游客戶更放心。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖...

進(jìn)一步的，對(duì)所述閃存參考單元進(jìn)行編譯，包括：在所述源極上施加***編程電壓，在所述漏極上施加第二編程電壓，在所述控制柵上施加第三編程電壓，在所述襯底上施加第四編程電壓；其中，所述***編程電壓小于所述第二編程電壓；所述第二編程電壓小于所述第三編程電...

第二時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)、第三時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)至第n時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)。在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norf...

AEC-Q1001.對(duì)于非易失性存儲(chǔ)器樣品，在HTOL之前進(jìn)行預(yù)處理：等級(jí)0：150℃，1000h等級(jí)1：125℃，1000h等級(jí)2：105℃，1000h等級(jí)3：85℃，1000h2.各等級(jí)溫度對(duì)應(yīng)的時(shí)間是比較低要求，通過計(jì)算或測(cè)量獲取HTOL的T...

提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)...

芯片ATE程序開發(fā)及FT測(cè)試FT（FinalTest）是芯片在封裝完成以后進(jìn)行的*終的功能和性能測(cè)試，是產(chǎn)品質(zhì)量控制*后環(huán)節(jié)，通過ATE+Handler+loadboard檢測(cè)并剔除封裝工藝和制造缺陷等生產(chǎn)環(huán)節(jié)問題的芯片。測(cè)試程序覆蓋功能和全pin性能參數(shù)，并...

上海頂策科技有限公司（Topictest）推出的TH801，智能在線監(jiān)控動(dòng)態(tài)老化設(shè)備，可以監(jiān)控的參數(shù)除了整板的電壓，電流，還可以根據(jù)需求，監(jiān)控到老化中每顆芯片的電壓、電流，寄存器數(shù)據(jù)，時(shí)間，頻率等諸多參數(shù)，并實(shí)時(shí)記錄保存成Excel文檔。這樣不僅可以確保每顆芯...

第二時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)、第三時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)至第n時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)。在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。具體的，在閃存(例如norf...

模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制作，老化程序開發(fā)調(diào)試，可靠性測(cè)試試驗(yàn)，出具可靠性報(bào)告。上海頂策科技有限公司提供高質(zhì)量、高效率、低成本HTOL測(cè)試方案?？煽啃詼y(cè)試事業(yè)部提供可靠性測(cè)試整體解決方案，...

在每個(gè)時(shí)間點(diǎn)讀點(diǎn)過程為：將閃存參考單元的輸出電流iref與閃存陣列單元的輸出電流i的差值經(jīng)由讀出放大器進(jìn)行比對(duì)判斷，若iref＜i，則閃存讀出“1”；若iref＞i，則閃存讀出“0”。與現(xiàn)有技術(shù)相比，本發(fā)明具有如下有益效果：本發(fā)明所提供的閃存htol測(cè)試方法，...

高質(zhì)量、高效率、低成本HTOL測(cè)試方案，上海頂策科技有限公司自主研發(fā)TH801智能一體化HTOL測(cè)試機(jī)，擁有多項(xiàng)發(fā)明專利及軟件著作權(quán)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可以實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提...

芯片HTOL測(cè)試一條龍服務(wù)，可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。涵蓋模擬，數(shù)字，混合信號(hào)，SOC，RF等各類芯片的可靠性方案設(shè)計(jì)，原理圖設(shè)計(jì)，PCBlayout加工制...

提供可靠性測(cè)試整體解決方案：可靠性設(shè)備，HTOL/LTOL、雙85、HAST等幾十項(xiàng)可靠性測(cè)試方案制定，PCB設(shè)計(jì)制作，測(cè)試試驗(yàn)，滿足各類芯片可靠性測(cè)試需求。自主研發(fā)在線實(shí)時(shí)單顆監(jiān)測(cè)技術(shù)，通過監(jiān)測(cè)數(shù)據(jù)，可實(shí)時(shí)發(fā)現(xiàn)問題并介入分析，大幅提高HTOL效率，節(jié)省更多時(shí)...